IC TEST CIRCUIT,申请号JP19980065742-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	IC TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH11258305(A)	申请公布日期	1999.09.24
申请号	JP19980065742	申请日期	1998.03.16
申请人	ANDO ELECTRIC CO LTD	发明人	ISHII SHIGEKI
分类号	G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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