发明名称 METHOD OF INSPECTING MASK DETECTS
摘要
申请公布号 KR20060060265(A) 申请公布日期 2006.06.05
申请号 KR20040099200 申请日期 2004.11.30
申请人 ALLIED INTEGRATED PATTERNING CORP. 发明人 HO MING FENG;CHANG I WEN
分类号 H01L21/66;H01L21/027 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
地址