| 发明名称 |
MEMORY ARRAY WITH TEST FUNCTION AND TEST METHOD THEREFOR |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH11260099(A) |
申请公布日期 |
1999.09.24 |
| 申请号 |
JP19980362093 |
申请日期 |
1998.12.21 |
| 申请人 |
INTERNATL BUSINESS MACH CORP <IBM> |
发明人 |
SALVATORE NICHOLAS STORINO;GREGORY JOHN WURMAN |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/34;G11C29/36;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
