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发明名称
EFFICIENT PARALLEL TESTING OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICES USING A KNOWN GOOD DEVICE TO GENERATE EXPECTED RESPONSES
摘要
申请公布号
KR100681363(B1)
申请公布日期
2007.02.12
申请号
KR20017011121
申请日期
2001.08.31
申请人
发明人
分类号
G01R31/319
主分类号
G01R31/319
代理机构
代理人
主权项
地址
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