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发明名称 CIRCUIT FOR SRAM TEST MODE ISOLATED BITLINE MODULATION
摘要
申请公布号 EP0820631(B1) 申请公布日期 1999.09.22
申请号 EP19960911291 申请日期 1996.03.12
申请人 MICRON TECHNOLOGY, INC. 发明人 MARR, KENNETH, W.
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G11C7/00;G11C11/413;G11C29/06;G11C29/14;G11C29/46;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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