| 发明名称 |
TEST PATTERN STRUCTURE FOR THIN FILM ACTUATED MIRROR ARRAY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100220688(B1) |
申请公布日期 |
1999.09.15 |
| 申请号 |
KR19960036965 |
申请日期 |
1996.08.30 |
| 申请人 |
DAEWOO ELECTRONICS CO.,LTD |
发明人 |
KIM, HYUNG-JOONG |
| 分类号 |
G02F1/015;G02F1/29;(IPC1-7):G02F1/015 |
主分类号 |
G02F1/015 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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