发明名称 | 一种快速投影结构光的三维轮廓相位测量方法及装置 | ||
摘要 | 一种全场无机械运动的高速投影结构光三维物体轮廓相位测量方法及装置,包括结构光投影(或成像)装置,光电成像及传感器装置,被测物体和测量结果输出装置,由投影(或成像)装置依次或同时投影(或成像)多幅不同光场分布的光场图到被测物体表面,然后由光电传感器依次连续获取多幅投影(或成像)到被测物体表面的变形光场图,也可以通过编码技术一次获取变形光场图后,再通过解码技术分解为多幅不同的变形光场图,最后由得到的N幅相应的变形光场图Z<SUB>1</SUB>,Z<SUB>2</SUB>…Z<SUB>n</SUB>(n≥3),得到物体的三维轮廓信息。 | ||
申请公布号 | CN1228526A | 申请公布日期 | 1999.09.15 |
申请号 | CN98111691.4 | 申请日期 | 1998.12.30 |
申请人 | 西安交通大学 | 发明人 | 赵宏;谭玉山 |
分类号 | G01B11/24 | 主分类号 | G01B11/24 |
代理机构 | 西安交通大学专利事务所 | 代理人 | 贾玉健 |
主权项 | 1.一种快速投影结构光的三维轮廓相位测量方法,其特征在于,(1)把被测物体放置在投影(或成像)装置及光电传感器前面,(2)通过投影(或成像)装置一次投影多幅结构光图或依次投影(或成像)各结构光图于被测物体表面;(3)由与投影(或成像)光轴成一定夹角的光电传感器来一次获取或依次获取投影(或成像)在被测物体上的变形结构光图,或由与投影(或成像)光轴成一定夹角的光电传感器通过一解调光栅来依次观察投影(或成像)在被测物体表面的变形结构光图,以获得多幅不同的莫尔条纹图;(4)直接通过分析变形结构光场或分析莫尔条纹图,计算出物体的三维轮廓。 | ||
地址 | 710049陕西省西安市咸宁路28号 |