发明名称 具电阻性元件的非挥发性记忆体与晶胞结构及其制作方法
摘要 非挥发性记忆体之晶胞结构,包括:一第一金属层;一第一介电层,形成于该第一金属层上方,其中,该第一介电层中具有一第一穿透洞,以暴露出该第一金属层;一第二介电层,形成于该第一穿透洞之内侧表面;一第一障壁层,覆盖于该第二介电层上;一第一过渡层,系由该第二介电层与该第一障壁层反应而成,且该第一过渡层接触于该第一金属层;一第二金属层,形成于该第一穿透洞内并接触于该第一过渡层;一第三介电层,形成于该第二金属层与该第一介电层上方,其中,该第三介电层中具有一第二穿透洞,以暴露出该第二金属层;一第四介电层,形成于该第二穿透洞之内侧表面;一第二障壁层,覆盖于该第四介电层上;一第二过渡层,系由该第四介电层与该第二障壁层反应而成,且该第二过渡层接触于该第二金属层;以及一第三金属层,形成于该第二穿透洞内并接触于该第二过渡层。
申请公布号 TWI534992 申请公布日期 2016.05.21
申请号 TW103111771 申请日期 2014.03.28
申请人 林崇荣 发明人 林崇荣
分类号 H01L27/115(2006.01);H01L21/8247(2006.01);G11C13/00(2006.01) 主分类号 H01L27/115(2006.01)
代理机构 代理人 祁明辉;叶明源
主权项 一种非挥发性记忆体之晶胞结构,包括:一第一金属层;一第一介电层,形成于该第一金属层上方,其中,该第一介电层中具有一第一穿透洞,以暴露出该第一金属层;一第二介电层,形成于该第一穿透洞之内侧表面;一第一障壁层,覆盖于该第二介电层上;一第一过渡层,系由该第二介电层与该第一障壁层反应而成,且该第一过渡层接触于该第一金属层;一第二金属层,形成于该第一穿透洞内并接触于该第一过渡层;一第三介电层,形成于该第二金属层与该第一介电层上方,其中,该第三介电层中具有一第二穿透洞,以暴露出该第二金属层;一第四介电层,形成于第二穿透洞之内侧表面;一第二障壁层,覆盖于该第四介电层上;一第二过渡层,系由该第四介电层与该第二障壁层反应而成,且该第二过渡层接触于该第二金属层;以及一第三金属层,形成于该第二穿透洞内并接触于该第二过渡层。
地址 新竹市关东路23巷25号8楼之