| 发明名称 |
Verfahren zur Bewertung des Gatteroxids nicht-flüchtiger EPROM, EEPROM und flash-EEPROM-Speicher |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE69229673(D1) |
申请公布日期 |
1999.09.02 |
| 申请号 |
DE19926029673 |
申请日期 |
1992.10.29 |
| 申请人 |
STMICROELECTRONICS S.R.L. |
发明人 |
CAPPELLETTI, PAOLO GIUSEPPE;RAVAZZI, LEONARDO |
| 分类号 |
G11C17/00;G11C29/00;G11C29/50;G11C29/56;H01L21/8247;H01L27/115;H01L29/788;H01L29/792;(IPC1-7):G11C29/00;H01L21/66 |
主分类号 |
G11C17/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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