| 主权项 |
1.一种IC测试装置,具有许多测试电路,用于测试具有N个I/O接脚、M个输入专用接脚与L个输出专用接脚之IC,该N、M与L是零或整数等于或大于1,各该许多测试电路包含:一格式控制部份,用于界定施加至该测试下IC之各该接脚之测试信号波形;一驱动器,受该格式控制部份之控制,用于输出该测试信号波形至该测试下IC之该I/O接脚与该输入专用接脚的其中之一;一第二I/O传输线,一端连接至该驱动器的输出端子;一第一类比比较器,连接至该驱动器的该输出端子,用于比较经由具有一参考値之该第二I/O传输线,从测试下IC之其中一个该I/O接脚接收的响应波形;一第二输出专用传输线;一第二类比比较器,连接至该第二输出专用传输线之输出端,用于比较经由具有一参考値之该第二I/O传输线,从该测试下IC之其中一个该输出专用接脚接收的响应波形;一选定器,用于选定来自该第一与第二类比比较器的其中一个输出;及一数位比较器,用于比较来自具有一预定値之该选定器的输出。2.如申请专利范围第1项之IC测试装置,进一步包含一特性板,可拆卸地安装有该测试下的IC,及一接脚电子卡,安装有该许多测量电路并可拆卸地连接至该特性板。3.如申请专利范围第2项之IC测试装置,其中该特性板包含:N个第一I/O端子、M个第一输入专用端子及L个第一输出专用端子,用于连接至该接脚电子卡;N个第一I/O传输线,各以一端连接至该第一I/O端子的其中之一,且以另一端连接至该测试下IC的该I/O接脚的其中之一;M个第一输入专用传输线,各以一端连接至该第一输入专用端子的其中之一,且以另一端连接至该测试下IC的该输入专用接脚的其中之一;L个第一输出专用传输线,各以一端连接至该测试下IC的该输出专用接脚的其中之一,且以另一端连接至该第一输出专用接脚的其中之一。4.如申请专利范围第2项之IC测试装置,其中该接脚电子卡进一步包含至少N+M个第二I/O端子及至少N+M个第二输出专用端子,用于连接至该特性板。5.如申请专利范围第3或4项之IC测试装置,其中于测试该测试下IC之该N个I/O端子时,该接脚电子卡连接该N个测量电路之该第一类比比较器至该数位比较器,并连接该N个第二I/O端子至该特性板之该N个第一I/O端子,且其中测试该测试下IC之该M个输入专用接脚与该L个输出专用接脚时,该接脚电子卡连接该M个测量电路之该第二类比比较器至该数位比较器,且连接该M个第二I/O端子与该L个第二输出专用接脚,至该特性板之该M个第一输入专用端子与该L个第一输出专用端子。6.一种IC测试装置,具有许多测试电路,用于测试具有N个I/O接脚、M个输入专用接脚与L个输出专用接脚之IC,该N、M与L是零或整数等于或大于1,各该许多测试电路包含:一格式控制部份,用于界定施加至该测试下IC之各该接脚之测试信号波形;第一与第二驱动器,在格式控制部份之控制下,用于输出测试信号波形至该测试下IC之该I/O接脚或输入专用接脚;一选定器,用于连接该第一与第二驱动器的其中之一至该格式控制部份;一第二I/O传输线,以一端连接至该第一驱动器之输出端子;一第二输入专用传输线,以一端连接至该第二驱动器的输出端子;一类比比较器,连接至该第一驱动器之该输出端子,用于比较来自具有参考値之该测试下IC之响应波形;及一数位比较器,用于比较来自具有预定値之该类比比较器的输出。7.如申请专利范围第6项之IC测试装置,进一步包含一特性板,可拆卸地安装有该测试下的IC,及一接脚电子卡,安装有该许多测量电路并可拆卸地连接至该特性板。8.如申请专利范围第7项之IC测试装置,其中该特性板包含:N个第一I/O端子、M个第一输入专用端子及L个第一输出专用端子,用于连接至该接脚电子卡;N个第I/O传输线,各以一端连接至该第一I/O端子的其中之一,且以另一端连接至该测试下IC的该I/O接脚的其中之一;M个第一输入专用传输线,各以一端连接至该第一输入专用端子的其中之一,且以另一端连接至该测试下IC的该输入专用接脚的其中之一;L个第一输出专用传输线,各以一端连接至该测试下IC的该输出专用接脚的其中之一,且以另一端连接至该第一输出专用接脚的其中之一。9.如申请专利范围第7项之IC测试装置,其中该接脚电子卡进一步包含至少N+M个第二I/O端子及至少N+M个第二输出专用端子,用于连接至该特性板。10.如申请专利范围第8或9项之IC测试装置,其中于测试该测试下IC之该N个I/O端子时,该接脚电子卡连接该N个测量电路之该第一驱动器至该格式控制部份,并连接该N个第二I/O端子至该特性板之该N个第一I/O端子,且其中测试该测试下IC之该M个输入专用接脚与该L个输出专用接脚时,该接脚电子卡连接该M个测量电路之该第二驱动器至该格式控制部份,同时连接该M个第二输入专用端子与该L个第二I/O端子,分别至该特性板之该M个第一输入专用端子与该L个第一输出专用端子。图式简单说明:第一图是使用I/O共同系统之习知IC测试装置的方块图;第二图是使用I/O分离系统之习知IC测试装置的方块图;第三图是一方块图,指出依据本发明之IC测试装置的实施例;第四图是一表,指出比较第三图之本发明装置与习知装置之间的经济观点;及第五图是一方块图,指出本发明之另一实施例。 |
