发明名称 GUARDING CIRCUIT FOR IN-CIRCUIT TESTER
摘要
申请公布号 KR100218396(B1) 申请公布日期 1999.09.01
申请号 KR19970017622 申请日期 1997.05.08
申请人 LG IND. SYSTEMS CO.,LTD 发明人 SEON, JONG-KUG
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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