发明名称 BUILT-IN SELF TEST METHOD FOR ROM
摘要
申请公布号 KR100219041(B1) 申请公布日期 1999.09.01
申请号 KR19960051603 申请日期 1996.11.01
申请人 HYUNDAI ELECTRONICS IND. CO.,LTD 发明人 TCHO, DAE-YEUL
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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