发明名称 PROBING MEASUREMENT METHOD AND PAD
摘要
申请公布号 KR100218499(B1) 申请公布日期 1999.09.01
申请号 KR19950035203 申请日期 1995.10.12
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 BAE, BEOUNG-SUNG
分类号 G01R1/00;(IPC1-7):G01R1/00 主分类号 G01R1/00
代理机构 代理人
主权项
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