| 发明名称 |
SYSTEM OR METHOD FOR ELECTRIC SIGN EXAMINATION |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100220104(B1) |
申请公布日期 |
1999.09.01 |
| 申请号 |
KR19970028932 |
申请日期 |
1997.06.30 |
| 申请人 |
BONG OH ELECTRONICS IND. CO., LTD. |
发明人 |
CHOI, BYUNG-SEOK |
| 分类号 |
G09F11/00;(IPC1-7):G09F11/00 |
主分类号 |
G09F11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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