| 主权项 |
1.一种用以测量一导体内电流之方法,包含:(a)选择 该 导体之一段,该电流产生一电压下降横过该段;(b) 耦合 一调变后电流来源横过该段,该调变电流来源产生 一测试 电流反应于具有一选择频率之调变波形,以产生一 测试电 压下降横过该段;(c)耦合一同步解调器横过该段, 以藉 由依据该调变波形同步地解调该测试电压下降,将 该测试 电压下降由该电压下降分出;(d)以一伏特计测量该 来源 电压下降;(e)切断该调变后电流来源;(f)以该伏特 计测 量横过该段之电压下降;以及(g)依据该测试电压下 降、 该电压下降与该测试电流决定该电流。2.如申请 专利范围第1项所述之用于测量一导体内电流之 方法,进一步包含依据该测试电压下降与该测试电 流计算 该段之电阻。3.如申请专利范围第1项所述之用于 测量一导体内电流之 方法,进一步包含选择该被选择频率以获取低于一 预设最 大准位之杂讯底部。4.如申请专利范围第1项所述 之用于测量一导体内电流之 方法,其中该电流包含交流电流与直流电流。5.如 申请专利范围第1项所述之用于测量一导体内电流 之 方法,该调变后电流来源包含:(a)第一与第二电流 来源 产生相反极性之电流;以及(b)一双极开关,该双极 开关 交替地耦合该等第一与第二电流来源至反应于该 调变信号 之该段。6.如申请专利范围第1项所述之用于测量 一导体内电流之 方法,该同步侦测器包含:(a)电容器;以及(b)一整流 开 关用于以与该调变信号同步地在相反极性耦合该 电容器横 过该段,其中该测试电压下降横过该电容器被生成 。7.一种用于测量一导体内电流之装置,包含:(a)第 一与 第二探针用于横过该导体一段而耦合,每一该等探 针具有 一来源连接与一感应连接,其中该电流产生一电压 下降横 过该段;(b)一基准波形产生器用于产生一调变信号 ;(c) 一调变电流来源用于产生一测试电流反应于该调 变信号, 并经由该等第一与第二探针之来源连接被耦合横 过该段以 产生一测试电压下降;(d)一同步侦测器经由该等第 一与 第二探针之该等感应连接被耦合横过该段,以将测 试电压 下降由反应于该调变信号之该电压下降分出;(e)一 伏特 计用于可选择地测量电压下降与该测试电压下降 以产生数 位测量値;以及(f)一微处理器被耦合于伏特计以接 收该 数位测量値,其中该微处理器依据该测试电压下降 与该电 压下降计算该导体内之电流。8.如申请专利范围 第7项所述之用于测量一导体内电流之 装置,其中该微处理器进一步计算该段之电阻。9. 如申请专利范围第7项所述之用于测量一导体内电 流之 装置,其中该微处理器被耦合至该基准波形产生器 以选择 该调变波形之一频率而获取低于一预设最大准位 之杂讯底 部。10.如申请专利范围第7项所述之用于测量一导 体内电流之 装置,其中该电流包含交流电流与直流电流。11.如 申请专利范围第7项所述之用于测量一导体内电流 之 装置,其中第一与第二电流来源产生相反极性之电 流,以 及一双极开关,该双极开关交替地耦合该等第一与 第二电 流来源至反应于该调变信号之该段。12.如申请专 利范围第7项所述之用于测量一导体内电流之 装置,该同步侦测器包含:(a)电容器;以及(b)一整流 开 关用于以与该调变信号同步地在相反极性耦合该 电容器横 过该段,其中该测试电压下降横过该电容器被生成 。图式 简单说明:第一图为依据本发明用于测量一导体内 电流与 电阻之电路的方块图;第二图为就第一图之电路显 示测试 频率对导体频率之关系的振幅对频率之图;第三图 为第一 图之调变后电流来源较佳实施例的图示;以及第四 图为第 一图之同步解调器较佳实施例的图示。 |
