发明名称 Memory cell array and corresponding manufacturing process
摘要 Die vorliegende Erfindung schafft eine Speicherzellenanordnung mit einer Vielzahl von in einem Halbleitersubstrat (10) vorgesehenen vorzugsweise ferroelektrischen Speicherzellen (S) mit in Längsrichtung in der Hauptfläche des Halbleitersubstrats (10) parallel verlaufenden Bitleitungsgräben (1a-1e), in deren Böden jeweils eine Bitleitung (15a-15d) vorgesehen ist, in deren Kronen jeweils ein Source/Drain-Gebiet vorgesehen ist und in deren Wänden jeweils ein Kanalgebiet (17a-17d; 20a-20d) vorgesehen ist; wobei jeweils das Kanalgebiet (17a-17d) an einer Wand derart gestaltet ist, daß dort ein ansteuerbarer Auswahltransistor der betreffenden Speicherzelle (S) gebildet ist, während das Kanalgebiet (20a-20d) an der anderen Wand derart gestaltet ist, daß der dortige Transistor geschlossen ist; in Querrichtung entlang der Hauptfläche des Halbleitersubs-trats (10) durch die Bitleitungsgräben (1a-1e) verlaufenden isolierten Wortleitungen (2a-2d) zur Ansteuerung der Auswahltransistoren; in Querrichtung in der Hauptfläche des Halbleitersubstrats (10) verlaufenden Isolationsgräben (3a-3c) zur Isolation der Source/Drain-Gebiete in Längsrichtung benachbarter Speicherzellen (S); und jeweils einem mit dem Source/Drain-Gebiet (25b, 26b, 27b) der betreffenden Speicherzelle (S) verbundenen, oberhalb der Wortleitungen (2a-2d) angeordneten vorzugsweise ferroelektrischen Kondensator (CEU1-CEU3; CEO; 70). <IMAGE>
申请公布号 EP0936673(A1) 申请公布日期 1999.08.18
申请号 EP19980123065 申请日期 1998.12.09
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BOEHM, THOMAS;OTANI, YOICHI, DR.;SCHLOESSER, TILL, DR.;WEINRICH, VOLKER, DR.;RUSCH, ANDREAS;TRUEBY, ALEXANDER;HAIN, MANFRED;ZIMMERMANN, ULRICH, DR.;KOHLHASE, ARMIN, DR.
分类号 H01L21/8247;H01L21/8242;H01L21/8246;H01L27/10;H01L27/105;H01L27/108;H01L29/788;H01L29/792;(IPC1-7):H01L27/108;H01L21/824;H01L27/115;H01L29/78 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人
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