METHOD FOR TESTING HIGH SPEED MEMORY DEVICES BY USING CLOCK MODULATION TECHNIQUE,申请号KR19970029708-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR TESTING HIGH SPEED MEMORY DEVICES BY USING CLOCK MODULATION TECHNIQUE
摘要
申请公布号	KR100216313(B1)	申请公布日期	1999.08.16
申请号	KR19970029708	申请日期	1997.06.30
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD.	发明人	JU, KI-BONG;RYU, JAE-BUN;CHI, IL-SIK;HAN, HEE
分类号	G01R31/28;G06F12/16;G11C29/48;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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