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发明名称 INAP CONFORMANCE TESTING SYSTEM ARCHITECTURE
摘要
申请公布号 KR100216532(B1) 申请公布日期 1999.08.16
申请号 KR19970037482 申请日期 1997.08.06
申请人 KOREA TELECOM CORP.;KOREA ELECTRONICS & TELECOMMUNICATIONS RESEARCH INSTITUTE 发明人 BAE, HYUN-JOO;BAE, SEONG-YONG;DO, HYUN-SOOK;SONG, HAN-YOUNG;KIM, SANG-KI
分类号 H04L29/06;(IPC1-7):H04L29/06 主分类号 H04L29/06
代理机构 代理人
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