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发明名称 PIN TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 KR100216116(B1) 申请公布日期 1999.08.16
申请号 KR19950051356 申请日期 1995.12.18
申请人 ADVANTEST CORP. 发明人 SATO, GAJUHIKO
分类号 G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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