首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Wafer-Prüfvorrichtung
摘要
申请公布号 DE4444185(C2) 申请公布日期 1999.08.12
申请号 DE19944444185 申请日期 1994.12.12
申请人 TOKYO SEIMITSU CO. LTD., MITAKA, TOKIO/TOKYO, JP 发明人 ISHIMOTO, TAKASHI, MITAKA, TOKIO/TOKYO, JP
分类号 G01R31/28;G01R1/073;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/68 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com