发明名称 校验标准规
摘要 本创作乃系有关于一种校验标准规,主要系在一夹具上螺固复数不同长度的块规而成,且令块规为高低间隔排列,而令较高的块规由夹具的槽道凸出,来检侧各种量具,以达到校正之便利性。
申请公布号 TW367039 申请公布日期 1999.08.11
申请号 TW087221963 申请日期 1998.12.31
申请人 精石企业有限公司 发明人 曾礼清
分类号 G01B21/00;G01B3/20;G01B3/38 主分类号 G01B21/00
代理机构 代理人 詹景尧 高雄巿中正四路四十九号八楼
主权项 1.一种校验标准规,主要系在一夹具的上面中央开 设一横 向贯穿之槽道,于该槽道内以高低间隔的排列方式 嵌套以 不同长度之块规,其中较高的块规并可凸出于槽道 之上, 使两较高块规间具有一间距,又,在夹具一侧端槽 道口螺 固一顶座,另一侧端头则以一顶块嵌套使抵靠于块 规后, 再于槽道口螺固一固定座,同时并由固定座螺设固 定元件 使抵紧于顶块外侧端面,而能利用顶座及固定座配 合顶块 来将块规固定位,以便于进行量具之检测校验者。 2.如申请专利范围第1项所述之校验标准规,其中夹 具两 侧面上与较高的块规对应处可设以凹槽者。3.如 申请专利范围第2项所述之校验标准规,其中夹具 两 侧面上之凹槽可冲压出数目或粘设印有数目的贴 纸者。图 式简单说明:第一图系习用块规之扭合示意图。第 二图系 习用块规之检测示意图。第三图系本创作之立体 图。第四 图系本创作之分解图。第五图系本创作检测附表 卡尺内径 之示意图。第六图系本创作检测附表卡尺外径之 示意图。 第七图系本创作检测分厘卡外径之示意图。第八 图系本创 作检测分厘卡内径之示意图。第九图系本创作检 测高度计 高度之示意图。
地址 高雄市三民区寿昌路一四八号