| 主权项 |
1．一种试验系统，该系统用于检验与电路板的印制线连接的半导体集成电路接脚的正确连接，包括一个试验器(T)，该试验器(T)可连接到电路板的印制线上，可将它的接地端子(E)连接到集成电路信号接脚中的一个上，可将它的与集成电路中的晶体管的基极相连的第二端子(B)连接到集成电路的接地接脚(GND)，传送用于导通一个晶体管的基极电压，并可将它的与集成电路中的晶体管的集电极相连的第一端子(C)连接到集成电路的另一个信号接脚(I)，该试验器(T)可以供给适用于产生适当的集电极电流的集电极电压，并测量相应的集电极电流，该试验系统的特征在于：该试验器(T)具有一个可与该集成电路的电源电压接脚(Vcc)中的一个连接的附加端子(Z)，并可在两种工作方式之间切换，两种工作方式下给第二端子(B)施加相同的电压，在第一种方式下，该第一端子(C)施加一个集电极电压并对产生的集电极电流进行测量，同时该附加端子(Z)不传送电流，而用于测量在该集成电路电源电压接脚(Vcc)处产生的附加电压；但在第二种工作方式下，该第一端子(C)开路，且该附加端子(Z)将在第一工作方式中测量的附加电压施加到该电源电压接脚(Vcc)上，并对从那里产生的附加电流进行测量。 |
