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经营范围
发明名称
INSPECTION DEVICE FOR THROW-AWAY CHIP
摘要
申请公布号
JPH11217116(A)
申请公布日期
1999.08.10
申请号
JP19980034072
申请日期
1998.01.30
申请人
TOKYO SEIKO CO LTD
发明人
NAKAYAMA ATSUSHI
分类号
G01B5/00;B07C5/06;B07C5/10;B65G47/14;G01B5/02;G01B11/24;G01B21/00;(IPC1-7):B65G47/14
主分类号
G01B5/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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