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发明名称 METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE ASSEMBLY
摘要
申请公布号 JPH11214456(A) 申请公布日期 1999.08.06
申请号 JP19980030549 申请日期 1998.01.28
申请人 SEIKO EPSON CORP 发明人 MURATA AKIHIRO
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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