| 摘要 |
<p>본 고안은 칩 검사용 소켓장치에 관한 것으로, 테스트부의 상부에 설치되는 베이스 회로기판; 베이스 회로기판 상부면의 중앙영역에 면접촉되게 설치되고, 상부판면 상에 전도성 검사단자(62)가 다수개 형성되어 있는 검사용 고무판(61);베이스 회로기판 상부의 가장자리 부분을 따라서 검사용 고무판(61)을 둘러싸도록 설치되는 베이스지지대(53); 베이스지지대(53) 상에 설치되는 탄성스프링(57)에 의해 탄성적으로 지지되게 설치되어 상하로 승강함으로써 검사용 고무판(61)과 접촉하는 검사대상물의 검사위치를 가이드하는 가이드프레임(55); 및 전방부(71)에 형성된 가압부가 검사용 고무판(61) 측으로 연장되고 중앙부분이 베이스지지대(53)에 회동가능하게 설치되며 후방부(72)가 가이드프레임(55) 부분에 고정됨으로써, 가이드프레임(55)이 상하로 승강함에 따라 회동하여 검사용 고무판(61)에 검사를 위해 장착된 검사대상물의 상부면을 가압부가 하방으로 가압하여 검사용 고무판(61)의 전도성 검사단자(62)가 검사대상물과 검사 접촉하도록 하는 가압레버(70a,70b)를 포함하여, 비교적 간단한 구조로 구성되어 제조원가가 절감되고, 검사대상 칩이 검사도중 쉽게 파손되지 않으며, 칩의 검사신뢰성이 향상될 수 있도록 한 것이다.</p> |
