发明名称 FUNCTION TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 KR100211944(B1) 申请公布日期 1999.08.02
申请号 KR19950051475 申请日期 1995.12.18
申请人 KOREA ELECTRONICS & TELECOMMUNICATIONS RESEARCH INSTITUTE 发明人 KIM, MYUNG HWAN;KWAK, MYUNG SIN
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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