发明名称 TEST CIRCUIT OF A DYNAMIC MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR100212135(B1) 申请公布日期 1999.08.02
申请号 KR19960016305 申请日期 1996.05.15
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 KIM, HUN-CHUL;CHUN, HONG-SIN
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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