| 摘要 |
<p>Ein Flächenmuster ist aus mosaikartig angeordneten, mikroskopischen Reliefstrukturen aufweisenden Flächenelementen (1 bis 7) aufgebaut. Die wenigstens in erste und zweite Teilflächen (8; 9) eingeteilten Flächenelemente (2 bis 6) weisen in den ersten und zweiten Teilflächen (8; 9) beugungsoptisch wirksame asymmetrische Beugungsgitter (12; 13) auf, wobei in jedem eingeteilten Flächenelement (2 bis 6) benachbarte erste Teilflächen (8) durch wenigstens eine zweite Teilfläche (9) getrennt sind. Die Gittervektoren der asymmetrischen Beugungsgitter (12) der ersten Teilflächen (8) aller eingeteilten Flächenelemente (2 bis 6) besitzen den gleichen ersten Wert des Azimuts und die asymmetrischen Beugungsgitter (13) der zweiten Teilflächen (9) aller eingeteilter Flächenelemente (2 bis 6) den gleichen zweiten Wert des Azimuts. Die eingeteilten Flächenelemente (2 bis 6) sind entsprechend ihrem Flächenanteilswert AN im Mosaik aller Flächenelemente (1 bis 7) angeordnet. Der Flächenanteilswert AN des N-ten eingeteilten Flächenelements ist das Verhältnis der Summe aller ersten Teilflächen (8) zur Gesamtfläche aller ersten und zweiten Teilflächen (8; 9).</p> |
