| 发明名称 | 用于计算X射线层析扫描仪的多处理器余辉虚象校正滤波器 | ||
| 摘要 | 所公开的CT扫描仪包括在扫描期间产生数据的X射线层析系统。该X射线层析系统包括:其特征为至少一个余辉幅值及至少一个余辉时间常数的检测器(14),及用于对从零至MAX的所有i产生检测器输出信号的多个采样x<SUB>i</SUB>的采样装置(318)。该扫描仪还包括一组N个处理采样x<SUB>i</SUB>的子处理器,每个子处理器(522<SUP>0</SUP>、522<SUP>1</SUP>、522<SUP>a</SUP>)由从零至N－1中选出的唯一整数q来表示并仅接收采样x<SUB>iN+q</SUB>。每个子处理器(522<SUP>0</SUP>、522<SUP>1</SUP>、522<SUP>a</SUP>)包括根据接收采样的至少一部分及代表余辉幅值及余辉时间常数的参数的函数产生补偿信号的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN1224520A | 申请公布日期 | 1999.07.28 |
| 申请号 | CN97196083.6 | 申请日期 | 1997.04.15 |
| 申请人 | 模拟技术有限公司 | 发明人 | 卡尔·R·克劳福德;克里斯托弗·C·鲁丝;尤里·巴奇洛夫;鲁温·戴奇 |
| 分类号 | G06F15/00;A61B6/03 | 主分类号 | G06F15/00 |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 蹇炜 |
| 主权项 | 1、一种对由检测器产生的并作为入射在所述检测器上射线强度的函数的输出信号进行处理的系统，该检测器信号响应的特征是表现为至少一个余辉幅值及至少一个余辉时间常数的函数的余辉，该系统包括测量检测器温度及根据所述温度的函数产生参数信号的装置，所述参数信号代表所述余辉幅值及所述余辉时间常数。 | ||
| 地址 | 美国马萨诸塞州 | ||