发明名称 半导体装置
摘要 在将半导体片3胶粘于配线基板1上的半导体片载置部2,并将它的电极5连接到配线基板1上的电极2,而以密封料11将半导体片3以及配线基板1上的电极2予以密封的半导体装置里,在上述半导体片载置部形成有用来使水蒸汽逸出之贯穿孔,即水蒸汽泄逸孔9。将上述保护膜不但不予形成在需要锡焊及/或电镀的部份,连半导体载置部之周围部分也不予形成,藉此,以该部分使配线基板1上藉由除去配线膜使该配线基板露出之部分6a,与密封料11密接在一起者。并以防止利用加热回流焊锡时被吸收于密封料11或配线基板1中的水分会汽化膨胀而产生密封料11与配线基板1的界面剥离或密封料11的凝聚破坏等回流破裂,以提高可靠性。
申请公布号 TW365059 申请公布日期 1999.07.21
申请号 TW084113140 申请日期 1995.12.09
申请人 新力股份有限公司 发明人 鹤园公博
分类号 H01L23/28;H05K1/16 主分类号 H01L23/28
代理机构 代理人 何金涂 台北巿大安区敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种半导体装置,系将半导体片胶粘于配线基板 上之半 导体片载置部,并将该半导体片之电极连接放上述 配线基 板上之电极,而以密封料将上述半导体片、其电极 以及配 线基板上之电极加以密封者,其特征为:在上述半 导体片 载置部形成有用来使水蒸汽逸出之贯穿孔,即有水 蒸汽泄 逸孔。2.如申请专利范围第1项之半导体装置,其中 在配线基板 的水蒸汽泄逸孔周围形成有阻止胶粘剂进入之突 起。3.一种半导体装置,系将半导体片胶粘于选择 性地涂布有 可防止锡焊及/或电镀附着之保护膜的配线基板上 之半导 体片载置部,并将该半导体片之电极连接于上述配 线基板 上之电极,而以密封料将上述半导体片、其电极及 配线基 板上之电极加以密封者,其特征为:将上述保护膜 不但不 予形成在需要锡焊及/或电镀的部分,连半导体载 置部之 周围部分也不予形成,藉此,以该部分使配线基板 上藉由 除去配线膜使该配线基板露出之部分,与密封料密 接在一 起者。图式简单说明:第一图(A),(B)是表示本发明 半导 体装置的一个实施例,(A)是配线基板的平面图,(B) 是在 相当于(A)的B-B线部分将半导体装置剖切的断面图 。第二 图(A),(B)是表示第一图所表示半导体装置的变形例 ,(A )是配线基板的平面图,(B)是(A)的B-B线断面图。第 三图 是表示半导体装置的向来例断面图。第四图(A),(B) 是表 示第三图所表示向来的半导体装置的各别问题点 的断面图 。
地址 日本