发明名称 | 电子显示器件的测试和对准系统以及用于该系统的测试定位装置 | ||
摘要 | 一种用于电子显示器件(12)的测试和对准系统(10),包括一个连接到电子显示器件的测试图案发生器(6),用于产生由电子显示器件显示的视频测试图案的图像。一个测试定位装置(14)放置在待测试和对准的电子显示器件前面。该测试定位装置包括一个支撑多个特写光传感器(54)和位于特写光传感器后面的多个广角光传感器(58)的框架(50),多个特写光传感器感测和产生与电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号,广角光传感器感测和产生与电子显示器件上显示的大面积图像对应的图像信号。计算机(20)控制测试图案发生器并处理和分析特写和广交光传感器产生的图像信号以便对电子显示器件进行一系列测试。显示器(24)对计算机进行的系列测试的结果提供可视指示。 | ||
申请公布号 | CN1223773A | 申请公布日期 | 1999.07.21 |
申请号 | CN97195945.5 | 申请日期 | 1997.06.23 |
申请人 | 图象处理系统公司 | 发明人 | 埃里克·巴克利;布兰科·布卡尔;韦恩·道;保罗·法勒;卡罗伊·G·内梅特;安德鲁·努南 |
分类号 | H04N17/04 | 主分类号 | H04N17/04 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 余朦 |
主权项 | 1.一种用于电子显示器件的测试和对准系统的测试定位装置,包括:一个框架;安装在所述框架上的多个特写光传感器,用于感测和产生与所述测试定位装置相邻放置的电子显示器件上显示的小面积图像对应的图像信号;和安装在所述框架上位于所述特写光传感器后面的多个广角光传感器,所述广角光传感器用于感测和产生与所述电子显示器件上显示的所述大面积图像对应的图像信号。 | ||
地址 | 加拿大安大略 |