首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 METHOD FOR SETTING UP TEST MODE IN SEMICONDUCTOR CHIP
摘要
申请公布号 KR100207511(B1) 申请公布日期 1999.07.15
申请号 KR19960046842 申请日期 1996.10.18
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 KIM, WON-KYUM;JUNG, KWANG-JAE
分类号 G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com