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发明名称 MEASURING CIRCUIT TEST PROBE WITH SUB-PROBE PIN.
摘要
申请公布号 KR100210407(B1) 申请公布日期 1999.07.15
申请号 KR19970020663 申请日期 1997.05.26
申请人 DAEWOO TELECOM LTD. 发明人 LEE, MIN-HYEONG
分类号 G01R1/06;(IPC1-7):G01R1/06 主分类号 G01R1/06
代理机构 代理人
主权项
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