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发明名称
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING THE SUBSTRATE/JIG PIN CONTACT OF SUBSTRATE TEST/CONTROLLER
摘要
申请公布号
KR200152382(Y1)
申请公布日期
1999.07.15
申请号
KR19960026028U
申请日期
1996.08.27
申请人
LG ELECTRONICS INC.
发明人
OH, GU-WHAN
分类号
H05K13/08
主分类号
H05K13/08
代理机构
代理人
主权项
地址
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