发明名称 SEMICONDUCTOR-INSPECTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH11190758(A) 申请公布日期 1999.07.13
申请号 JP19970361167 申请日期 1997.12.26
申请人 FUJITSU LTD 发明人 MARUYAMA SHIGEYUKI
分类号 G01R31/26;G01R1/06;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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