发明名称 MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
摘要
申请公布号 JPH11190739(A) 申请公布日期 1999.07.13
申请号 JP19970367660 申请日期 1997.12.26
申请人 HITACHI CONSTR MACH CO LTD 发明人 MORIMOTO TAKASHI;MURAYAMA TAKESHI;KURODA HIROSHI;ONOZATO AKIMASA;SHIRAI TAKASHI;NISHIGAKI TAKESHI
分类号 G01B21/20;G01N37/00;G01Q30/04;G01Q90/00;(IPC1-7):G01N37/00 主分类号 G01B21/20
代理机构 代理人
主权项
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