| 主权项 |
1.一种液晶显示体测试用接触探针,系将被配列为 平行的接触针使其对于第1层非导电树脂薄膜而言 成为垂直的方式而且接触针的先端部系由第1层非 导电性树脂薄膜突出的方式于第1层非导电性树脂 薄膜的单面贴附而成的液晶显示体测试用接触探 针;其特征为: 于前述非导电性树脂薄膜上,进而贴附金属薄膜而 成的液晶显示体测试用接触探针。2.一种液晶显 示体测试用接触探针,系将被配列为平行的接触针 使其对于第1层非导电树脂薄膜而言成为垂直的方 式而且接触针的先端部系由第1层非导电性树脂薄 膜突出的方式于第1层非导电性树脂薄膜的单面贴 附而成的液晶显示体测试用接触探针;其特征为: 于前述非导电性树脂薄膜上贴附金属薄膜,进而于 此金属箔膜上进而张贴第2层非导电性树脂薄膜而 成的液晶显示体测试用接触探针。3.如申请专利 范围第1项所记载之液晶显示体测试用探针,其中, 前述接触针,系由镍或是镍合金上镀金(Au)而成的 。4.如申请专利范围第1项所记载之液晶显示体测 试用探针,其中,前述金属薄膜,系由镍薄膜,镍合金 薄膜、铜薄膜或者是铜合金薄膜之任一种所构成 的。5.如申请专利范围第1项所记载之液晶显示体 测试用探针,其中,前述接触针,系由镍或是镍合金 上镀金(Au)而成的,而且前述金属薄膜,系由镍薄膜, 镍合金薄膜、铜薄膜或者是铜合金薄膜之任一种 所构成的。6.一种液晶显示体测试用接触探针,系 将被配列为平行的接触针使其对于第1层非导电树 脂薄膜而言成为垂直的方式而且接触针的先端部 系由第1层非导电性树脂薄膜突出的方式于第1层 非导电性树脂薄膜的单面贴附而成的液晶显示体 测试用接触探针;其特征为: 于前述第1层非导电性树脂薄膜之上张贴金属薄膜 ,于此金属薄膜上进而将由有机或是无机材料所构 成的强弹性薄膜,于接触针的先端部由第1层非导 电性树脂薄膜突出之侧,以较接触针更短地突出的 方式张贴于液晶显示体测试用接触探针上。7.一 种液晶显示体测试用接触探针,系将被配列为平行 的接触针使其对于第1层非导电树脂薄膜而言成为 垂直的方式而且接触针的先端部系由第1层非导电 性树脂薄膜突出的方式于第1层非导电性树脂薄膜 的单面贴附而成的液晶显示体测试用接触探针;其 特征为: 于前述第1层非导电性树脂薄膜之上张贴金属薄膜 ,于此金属薄膜上进而张贴第2层非导电性树脂薄 膜,于此第2层非导电性树脂薄膜上将由有机或是 无机材料所构成的强弹性薄膜,于接触针的先端部 由第1层非导电性树脂薄膜突出之侧,以较接触针 更短地突出的方式张贴于液晶显示体测试用接触 探针上。8.一种液晶显示体测试用接触探针,系将 被配列为平行的接触针使其对于宽幅第1层非导电 树脂薄膜而言成为垂直的方式而且接触针的先端 部系由宽幅第1层非导电性树脂薄膜突出的方式于 宽幅第1层非导电性树脂薄膜的单面贴附而成的液 晶显示体测试用接触探针;其特征为: 于前述宽幅第1层非导电性树脂薄膜之上张贴金属 薄膜,于此金属薄膜上进而将由有机或是无机材料 所构成的强弹性薄膜,于接触针的先端部由宽幅第 1层非导电性树脂薄膜突出之侧,以较接触针更短 地突出的方式张贴于液晶显示体测试用接触探针 上。9.一种液晶显示体测试用接触探针,系将被配 列为平行的接触针使其对于宽幅第1层非导电树脂 薄膜而言成为垂直的方式而且接触针的先端部系 由宽幅第1层非导电性树脂薄膜突出的方式于宽幅 第1层非导电性树脂薄膜的单面贴附而成的液晶显 示体测试用接触探针;其特征为: 于前述宽幅第1层非导电性树脂薄膜之上张贴金属 薄膜,于此金属薄膜上进而张贴第2层非导电性树 脂薄膜,于此第2层非导电性树脂薄膜上将由有机 或是无机材料所构成的强弹性薄膜,于接触针的先 端部由宽幅第1层非导电性树脂薄膜突出之侧,以 较接触针更短地突出的方式张贴于液晶显示体测 试用接触探针上。10.如申请专利范围第6项所记载 之液晶显示体测试用探针,其中,前述金属薄膜,系 由镍薄膜,镍合金薄膜、铜薄膜或者是铜合金薄膜 之任一种所构成的。11.如申请专利范围第6项所记 载之液晶显示体测试用探针,其中,前述有机或是 无机材料所构成的强弹性薄膜系由陶瓷或者是聚 乙烯对苯二酸酯薄膜所构成的。12.一种液晶显示 体测试装置,系具备有:将被配列为平行的接触针 使其对于第1层非导电树脂薄膜而言成为垂直的方 式而且接触针的先端部系由第1层非导电性树脂薄 膜突出的方式于第1层非导电性树脂薄膜的单面贴 附,进而于前述第1层非导电性树脂薄膜上张贴金 属箔膜而成的液晶显示体测试用接触探针;及 于前述液晶显示体测试用探针的金属薄膜上以较 接触针更短地突出的方式重叠之由有机或是无机 材料所构成的强弹性薄膜;及 具有于前述液晶显示体测试用探针的金属薄膜上 以重叠有机或是无机材料所构成的强弹性薄膜的 状态供夹持用的顶夹子以及底夹子之接触探针夹 持体;及固定支撑前述接触探针夹持体用的画框状 外框。13.一种液晶显示体测试装置,系具备有:将 被配列为平行的接触针使其对于第1层非导电树脂 薄膜而言成为垂直的方式而且接触针的先端部系 由第1层非导电性树脂薄膜突出的方式于第1层非 导电性树脂薄膜的单面贴附,于前述第1层非导电 性树脂薄膜上张贴金属薄膜,进而于此金属薄膜上 张贴第2层非导电性树脂薄膜而成的液晶显示体测 试用接触探针;及 于前述液晶显示体测试用探针的第2层非导电性树 脂薄膜上以较接触针更短地突出的方式重叠之由 有机或是无机材料所构成的强弹性薄膜;及 具有于前述液晶显示体测试用探针的金属薄膜上 以重叠有机或是无机材料所构成的强弹性薄膜的 状态供夹持用的顶夹子以及底夹子之接触探针夹 持体;及 固定支撑前述接触探针夹持体用的画框状外框。 14.一种液晶显示体测试装置,系具备有:将被配列 为平行的接触针使其对于宽幅第1层非导电树脂薄 膜而言成为垂直的方式而且接触针的先端部系由 宽幅第1层非导电性树脂薄膜突出的方式贴附于宽 幅第1层非导电性树脂薄膜的单面,进而于前述宽 幅第1层非导电性树脂薄膜上张贴金属薄膜而成的 液晶显示体测试用接触探针;及于前述液晶显示体 测试用探针的金属薄膜上以较宽幅第1层非导电性 树脂薄膜更短地突出的方式重叠之由有机或是无 机材料所构成的强弹性薄膜;及 具有于前述液晶显示体测试用探针的金属薄膜上 以重叠有机或是无机材料所构成的强弹性薄膜的 状态供夹持用的顶夹子以及底夹子之接触探针夹 持体;及 固定支撑前述接触探针夹持体用的画框状外框。 15.一种液晶显示体测试装置,系具备有:将被配列 为平行的接触针使其对于宽幅第1层非导电树脂薄 膜而言成为垂直的方式而且接触针的先端部系由 宽幅第1层非导电性树脂薄膜突出的方式贴附于宽 幅第1层非导电性树脂薄膜的单面,进而于前述宽 幅第1层非导电性树脂薄膜上张贴金属薄膜,于此 金属薄膜上进而再张贴第2层非导电性树脂薄膜而 成的液晶显示体测试用接触探针;及 于前述液晶显示体测试用探针的第2层非导电性树 脂薄膜上以较宽幅第1层非导电性树脂薄膜更短地 突出的方式重叠之由有机或是无机材料所构成的 强弹性薄膜;及具有于前述液晶显示体测试用探针 的金属薄膜上以重叠有机或是无机材料所构成的 强弹性薄膜的状态供夹持用的顶夹子以及底夹子 之接触探针夹持体;及 固定支撑前述接触探针夹持体用的画框状外框。 16.如申请专利范围第12项所记载之液晶显示体测 试装置,其中,前述金属薄膜,系由镍,镍合金、铜或 者是铜合金之任一种所构成的。17.如申请专利范 围第12项所记载之液晶显示体测试装置,其中,前述 有机或是无机材料所构成的强弹性薄膜系由陶瓷 或者是聚乙烯对苯二酸酯薄膜所构成的。18.一种 液晶显示体测试装置,系将被配列为平行的接触针 使其对于宽幅第1层非导电树脂薄膜而言成为垂直 的方式而且接触针的先端部系由宽幅第1层非导电 性树脂薄膜突出的方式贴附于宽幅第1层非导电性 树脂薄膜的单面,进而于前述宽幅第1层非导电性 树脂薄膜上张贴金属薄膜而成的液晶显示体测试 用接触探针,接续于具有被接续在前述接触针的各 基端的端子的电路而成的液晶显示体测试装置,其 特征为:此液晶显示体测试装置,具备有:被配置于 前述树脂薄膜上之前述接触针对于测定对象物加 压的状态下接触时,介由前述树脂薄膜而将该接触 针向测定对象物加压的压押用薄膜;及 保持此压押用薄膜与前述接触探针用的保持构件; 前述压押用薄膜,系介由前述树脂薄膜压押前述接 触针时,以该先端角部与前述树脂薄膜为非接触状 态的方式由前述树脂薄膜突出而被设置,而且,前 述压押用薄膜,系以与前述接触针非接触状态的方 式而由前述树脂薄膜突出之突出量设定为较前述 接触针为小。19.如申请专利范围第18项所记载之 液晶显示体测试装置,其中,前述树脂薄膜,在前述 压押用薄膜介由该树脂薄膜而压押前述接触针时, 在与前述压押用薄膜接触的接触部,施加降低摩擦 系数的处理。20.如申请专利范围第18项所记载之 液晶显示体测试装置,其中,于前述金属薄膜直接 张贴而设有第2薄膜。图式简单说明: 第一图系本发明之液晶显示体测试用接触探针之 第1实施形态之部分斜视概略图。 第二图系第一图之C-C断面图。 第三图系显示第1实施形态之制造方法之概略说明 图。 第四图系显示第1实施形态之变形例之断面图。 第五图系本发明之液晶显示体测试用接触探针之 第2实施形态之部分斜视概略图。 第六图系第五图之C-C断面图。 第七图系显示第2实施形态之使用方法之概略说明 图。 第八图系显示第2实施形态之制造方法之概略说明 图。 第九图系显示第2实施形态之变形例之断面图。 第十图系第九图之E-E断面图。 第十一图系显示该变形例之使用方法之概略说明 图。 第十二图系显示该变形例之制造方法之概略说明 图。 第十三图系显示第2实施形态之其他变形例之断面 概略说明图。 第十四图系显示第2实施形态之进而其他的变形例 之断面概略说明图。 第十五图系显示该变形例之使用方法之概略说明 图。 第十六图系显示第2实施形态之进而其他的变形例 之断面概略说明图。 第十七图系显示前述实施形态之一例之断面图。 第十八图系夸张地显示该实施形态之缺点之断面 图。 第十九图系本发明之液晶显示体测试用接触探针 之第3实施形态之重要部位之侧面图。 第二十图系显示该装置之使用状态之侧面图。 第二十一图系构成该装置之接触探针之制造方法 依照工程顺序而显示之重要部位断面图。 第二十二图系该接触探针之侧断面图。 第二十三图系该液晶显示体测试装置之重要部位 之分解斜视图。 第二十四图系该液晶显示体测试装置之重要部位 之断面图。 第二十五图系该液晶显示体测试装置之重要部位 之斜视图。 第二十六图系说明该接触探针之金属薄膜用的正 面图。 第二十七图系从前之接触探针的斜视概略图。 第二十八图系第二十七图之A-A断面图。 第二十九图系装设从前的接触探针用的夹具的分 解斜视图。 第三十图系将从前的接触探针装设于夹具上的状 态之斜视图。 第三十一图系将从前的接触探针装设于夹具上,而 将此装设于框上之状态的概略斜视图。 第三十二图系显示将从前的接触探针装设于夹具 上,而将此装设于框上之状态的第三十一图之B-B断 面图。 第三十三图系将第二十七图之从前的接触探针由D 方向所见之正面图。 第三十四图系从前的液晶显示体测试用接触探针 的断面图。 第三十五图系使用从前的液晶显示体测试用接触 探针的场合的断面图。 |
