发明名称 高效率雷射式样产生器
摘要 一种雷射扫瞄器包括一从提供附加之工作距离位置上之一扫瞄透镜来重塑一影像之光学中继器,此光学中继器包括为紫外线光提供消色差聚焦之主要反射元件,此光学中继器之一实施例之放大倍率约为1,且使用一种球面镜组态可消除影像失真与偏差,第二光学中继器使用如抛物线与椭圆镜片来提供降低影像大小,在第二光学中继器中使用附加的透镜来消除失真与偏差,附加的工作距离允许在光学中继器之光学路径上插入如分束器、山形校正器与自动对焦光学元件。
申请公布号 TW364071 申请公布日期 1999.07.11
申请号 TW087110999 申请日期 1998.07.07
申请人 发明人
分类号 G03B27/42;G03B41/00 主分类号 G03B27/42
代理机构 代理人
主权项 1.一种雷射直接成像系统,其包括: 一产生光束之多波长雷射; 一主动光束稳定系统; 一分开此光束成为次光束之装置; 一远心降低该次光束直径之反射器; 一多波道调变装置; 一分束器,其用于分开与重组不同UV光谱线之一次 光束来产生一时序信号; 一使该次光束平行之反折射光学元件; 一旋转该次光束之反射器; 一远心扫瞄透镜; 一无聚焦中继器;及 一取出中继器系统之山形校正光学元件之未调变 光时序信号之装置。2.如申请专利范围第1项系统, 其中该分束器包括多分束器组态,使得使用相同之 部件之子集可产生2.4和8个光束,每一子光束由2N90 度多反射而来,其中N为任意数。3.如申请专利范围 第1项系统,其中该时序讯号系由在该调变装置前 之分束器前表面反射350-364nm光而产生,让380nm与以 上之光通过,接着阻断所有光束但只让一传送光束 通过,而后使用相同之第二分束器在该调变装置后 同轴地结合所变成之时序光束与写入光束。4.如 申请专利范围第1项系统,其中折射光元件被包含 为校正元件。5.一种反射光学中继器被用来从一 微影扫瞄透镜重塑一条状影像场域,此微影扫瞄透 镜维持以下参数之正确性: 有限的绕射(Strehl比>75%); 维持一远心、平场域影像平面;及 在一多光束系统所需之公差内将差异失真减至最 低。6.一种光学中继器从一物件到一影像侧,依序 包括: 一场平坦器; 一从场域平坦器开始之光学路径上之第一凹面镜; 一从第一凹面镜开始之光学路径上之凸面镜;以及 一从此凸面镜开始之光学路径上之第二凹面镜。7 .如申请专利范围第6项之光学中继器,其中: 第一和第二凹面镜有一凹圆球表面;以及 该第一凹球面镜有一与该第二凹球面镜相同之半 径。8.如申请专利范围第7项之光学中继器,其中该 凸面镜有一球面之曲率半径约为该第一凹球面镜 曲率半径之一半。9.如申请专利范围第8项之光学 中继器,其中该光学中继器之放大倍率约为一。10. 如申请专利范围第6项之光学中继器,其中: 每一第一、二凹面镜有一非球表面;以及 该光学中继器更包括一在从第二凹面镜开始之光 学路径上之透镜,该透镜校正在该光学中继器其它 地方所产生之失真与偏差。11.如申请专利范围第 10项之光学中继器,其中: 该第一凹面镜之非球表面有一抛物线横切面;以及 该第二凹面镜之非球表面有一椭圆横切面。12.如 申请专利范围第11项之光学中继器,其中该光学中 继器之放大倍率小于一。13.一种雷射扫瞄器包括: 一空间调变雷射光束源; 形成空间地调变雷射光束之一影像的扫瞄光学元 件,其中该影像有一沿第一线移动之位置;以及 一光学中继器,从一物件侧到一影像侧依序包括: 一用来接收位从第一线之影像而来之光之场平坦 器; 一在从该场平坦器开始之光学路径上之第一凹面 镜; 一在从第一凹面镜开始之光学路径上之凸面镜;以 及 一在从该凸面镜开始之光学路径上之第二凹面镜, 其中该第二凹面镜形成一沿第二线移动之位置之 影像。14.如申请专利范围第13项之雷射扫瞄器,其 中: 每一第一和第二凹面镜有一凹球面;及 该第一凹球面镜有一与第二凹球面镜相同之曲率 半径。15.如申请专利范围第14项之雷射扫瞄器,其 中该凸面镜有一约为该第一凹球面镜一半之弯曲 半径。16.如申请专利范围第15项之雷射扫瞄器,其 中该光学中继器之放大倍率约为1。17.如申请专利 范围第13项之雷射扫瞄器,其中: 每一第一和第二凹面镜有一非球表面;以及 该光学中继器更包括一从该第二凹面镜反射光之 光学路径上之一透镜,该透镜校正在该光学中继器 其它地方所产生之失真与偏差。18.如申请专利范 围第17项之雷射扫瞄器,其中:该第一凹面镜之非球 表面有一抛物线横切面;及 该第二凹面镜之非球表面有一椭圆横切面。19.如 申请专利范围第18项之雷射扫瞄器,其中该光学中 继器之放大倍率小于1。20.一种雷射扫瞄器包括: 一空间调变雷射光束源; 形成空间调变雷射光束之一第一影像之扫瞄光学 元件,其中该第一影像有一沿第一线移动之位置; 一光束位置侦测器; 一光学中继器,其从该第一影像形成一沿第二线移 动之位置之第二影像;以及 一在该光学中继器之光学路径上之分束器,其中分 束器从光学中继器分出一部分光给该光束位置侦 测器。21.如申请专利范围第20项之扫瞄器,其更包 括在该光学中继器之光学路径上之山形校正光学 元件。22.如申请专利范图第20项之扫瞄器,其中该 光学中继器之放大倍率约为1。23.申请专利范围第 20项之扫瞄器,其中该光学中继器之放大倍率小于1 。图式简单说明: 第一图系根据此发明之实施例之雷射扫瞄器方块 图。 第二图A、B、C和D显示可使用于第一图之四个分离 的多波道分束器。 第三图A显示第一图之扫描器的多波道调变器光学 元件。 第三图B显示在本发明之实施例中一使用镜面组合 来取代道威三棱镜。 第四图A和B各显示根据本发明之实施例之一1:1光 学中继器之光线路径侧视和立体图。 第五图显示此发明之实施例,其中第四图A之中继 器与完整扫瞄系统结合而在扫瞄光学元件与最后 影像间提供额外之工作距离。 第六图显示导引一末调变光束到包含时序光栅之 平均焦距影像平面之光学元件详图。 第七图和第八图显示可用于第一图之扫描器之两 个中继器实施例。
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