| 摘要 |
<p>본 발명은 전자부품이 조립된 상태에서 부품단락 또는 PCB의 단락을 검출하기 위한 단락위치 검출장치를 개시한다. 본 발명은 전자부품이 조립된 상태에서 부품단락 또는 PCB의 단락위치를 검출하기 위하여 저저항검출수단에서 출력되는 신호값을 펄스형태의 데이타로 변환시키고, 이를 마이크로프로쎄서에 의하여 대응되는 출력형태로 출력시킴으로써 프로브를 통하여 감지되는 저저항값의 변화가 발생되는 경우 이를 감지하여 스피커를 통하여 발하여지는 음의 변화로 작업자가 단락위치에 접근하였음과 단락위치임을 알 수 있도록 한 것이다. 이에 따라 본 발명은 고가의 장치없이도 단락위치를 신속하고 정확하게 감지할 수 있으며, 작업능률을 크게 개선할 수 있게 되는 유용한 효과가 있다.</p> |
