INSPECTION METHOD FOR ELECTRONIC CIRCUIT,申请号JP19980263008-传众专利搜索

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发明名称	INSPECTION METHOD FOR ELECTRONIC CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH11174129(A)	申请公布日期	1999.07.02
申请号	JP19980263008	申请日期	1998.09.17
申请人	SIEMENS AG	发明人	KOCK ERNST-JOSEF;SCHNEIDER PETER
分类号	G01R31/28;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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