发明名称 PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA MESURE PAR INFRAROUGE DE LA TEMPERATURE D'UNE SURFACE
摘要 Pour tracer le contour d'une zone d'énergie (E) sur une surface dont on veut mesurer la température à l'aide d'un radiomètre, le procédé selon l'invention met en oeuvre un dispositif de visée à laser (12) associé au radiomètre. Il consiste à amener le dispositif de visée (12) à émettre au moins trois faisceaux laser vers ladite surface pour atteindre celle-ci en des emplacements distincts, en vue de tracer le contour de la zone d'énergie (E). L'invention s'applique à la mesure précise de la température.
申请公布号 FR2773214(A1) 申请公布日期 1999.07.02
申请号 FR19980004998 申请日期 1998.04.17
申请人 OMEGA ENGINEERING INC 发明人
分类号 G01J5/02;G01J5/08;(IPC1-7):G01J5/08;G02B23/14 主分类号 G01J5/02
代理机构 代理人
主权项
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