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经营范围
发明名称
SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE
摘要
申请公布号
JPH11176194(A)
申请公布日期
1999.07.02
申请号
JP19970340154
申请日期
1997.12.10
申请人
TOSHIBA CORP
发明人
SATO TSUNEHIRO
分类号
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/44;H01L21/66;(IPC1-7):G11C29/00
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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