METHOD AND APPRATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT,申请号KR19960033541-传众专利搜索

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发明名称	METHOD AND APPRATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号	KR100205838(B1)	申请公布日期	1999.07.01
申请号	KR19960033541	申请日期	1996.08.13
申请人	SHARP CORPORATION	发明人	EHIRO, MASAYUKI
分类号	G01R31/26;G01R31/28;G01R31/30;G01R31/3183;G01R31/319;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
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