发明名称 HIGH-FREQUENCY CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD OF DIELECTRIC MATERIAL
摘要
申请公布号 JPH11166952(A) 申请公布日期 1999.06.22
申请号 JP19970348745 申请日期 1997.12.04
申请人 JISEDAI EISEI TSUSHIN HOSO SYSTEM KENKYUSHO:KK;HAMAMATSU PHOTONICS KK;EITO KOGYO:KK 发明人 ISHIDA HITOSHI;KAWAKAMI YOICHI;TAKAHASHI HIRONORI;SEKIMOTO RIICHI
分类号 G01N22/00;G01R15/24;G01R27/26;(IPC1-7):G01R27/26 主分类号 G01N22/00
代理机构 代理人
主权项
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