| 摘要 |
Açiklanan bulus,miknatislanmaz bir ürüne (1) yanlislikla karismis manyetik bir maddenin tespit edilebilmesi için kullanilacak yöntem ve cihazla ilgilidir. Miknatislanmaz ürün (1), örnegin dikilmis bir bir ürün, güçlü bir manyetik alandan (2) geçirilerek burada ürüne bir manyetik alan uygulanir. Ürüne (1) karismis kirik bir dikis ignesi gibi manyetik bir maddenin (10) artik miknatislanmasi, bir detektör ünite (3) tarafindan tespit edilir. Detektör ünitesi (3) tarafindan tespit edilen sinyaller,artik miknatislanmayi ölçen bir ölçüm ünitesine (4) aktarilir. Ölçüm ünitesinden (4) gelen çiktiyi irdeleyen bir kontrol ünitesi (5) üründe (1) bir manyetik maddenin (10) bulunup bulunmadigini belirler. Bir alternatif, miknatislanmaz bir ürüne (1a) karisma olasiligi bulunan manyetik bir maddeye (10a) önceden manyetik alan uygulanarak bu manyetik maddenin (10a) artik miknatislanmasinin saglanmasidir.
|
