发明名称 DISPOSITIVO PARA EL ENSAYO DE MODULOS.
摘要 EL DISPOSITIVO SIRVE PARA LA COMPROBACION DE MODULOS ELECTRICOS (M). PARA ELLO ESTA PREVISTO POR LO MENOS UN RECIPIENTE (B) QUE PRESENTA ABERTURAS (OP), EN CADA UNA DE LAS CUALES SE PUEDE INTRODUCIR UN MODULO (M) DE TAL MODO QUE LA ABERTURA (OP) ES CERRADA POR LO MENOS APROXIMADAMENTE ESTANCA Y EL RECIPIENTE (B) POR LO MENOS TIENE UN ACCESO (ZG), QUE SE PUEDE UNIR CON LA SALIDA (AG) DE UN GRUPO (T/F-A), QUE ES APROPIADO PARA LA SALIDA DE UN MEDIO (M) DE TEMPERATURA Y/O CONTENIDO DE HUMEDAD SELECCIONABLES. EL DISPOSITIVO HACE POSIBLE LA COMPROBACION DEL FUNCIONAMIENTO DE LOS MODULOS (M) MIENTRAS SE VARIA EL GRADIENTE DE TEMPERATURA O SE DESARROLLAN OTRAS COMPROBACIONES.
申请公布号 ES2129530(T3) 申请公布日期 1999.06.16
申请号 ES19940100973T 申请日期 1994.01.24
申请人 SIEBA AG 发明人 RIESER, HANSJORG;STAUBLI, HERBERT;SCHMOKER, PETER, DR.
分类号 G01N17/00;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01N17/00
代理机构 代理人
主权项
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