发明名称 具有选择性生长接触焊盘的半导体器件
摘要 一种半导体器件,具有利用各向异性硅选择性生长技术生长的接触焊盘,包括与扩散层交叉的第一字线,扩散层形成在衬底上并且被元件隔离区以直角包围,第二字线平行于形成在扩散层圆角部上的第一字线,扩散层的区域被第一和第二字线矩形分隔。从而实现从扩散层的区域各向异性生长硅选择性外延,避免因圆角部引起的各向同性生长劣化。
申请公布号 CN1219774A 申请公布日期 1999.06.16
申请号 CN98125892.1 申请日期 1998.12.03
申请人 日本电气株式会社 发明人 古贺洋贵
分类号 H01L29/772;H01L29/80 主分类号 H01L29/772
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王忠忠;张志醒
主权项 1.半导体器件,包括:衬底;形成在所述衬底上的元件隔离区; 形成在所述衬底上的扩散层,并且被所述元件隔离区所包围;与所述扩散层交叉的第一栅电极;形成在所述扩散层的端部上的第二栅电极,以便覆盖所述端部的角部;从所述扩散层的暴露部分选择性地生长的源或漏接触焊盘,所述暴露部分搭接地位于所述第一栅电极和所述第二栅电极的中间。
地址 日本东京都