发明名称 | 具有选择性生长接触焊盘的半导体器件 | ||
摘要 | 一种半导体器件,具有利用各向异性硅选择性生长技术生长的接触焊盘,包括与扩散层交叉的第一字线,扩散层形成在衬底上并且被元件隔离区以直角包围,第二字线平行于形成在扩散层圆角部上的第一字线,扩散层的区域被第一和第二字线矩形分隔。从而实现从扩散层的区域各向异性生长硅选择性外延,避免因圆角部引起的各向同性生长劣化。 | ||
申请公布号 | CN1219774A | 申请公布日期 | 1999.06.16 |
申请号 | CN98125892.1 | 申请日期 | 1998.12.03 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 古贺洋贵 |
分类号 | H01L29/772;H01L29/80 | 主分类号 | H01L29/772 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王忠忠;张志醒 |
主权项 | 1.半导体器件,包括:衬底;形成在所述衬底上的元件隔离区; 形成在所述衬底上的扩散层,并且被所述元件隔离区所包围;与所述扩散层交叉的第一栅电极;形成在所述扩散层的端部上的第二栅电极,以便覆盖所述端部的角部;从所述扩散层的暴露部分选择性地生长的源或漏接触焊盘,所述暴露部分搭接地位于所述第一栅电极和所述第二栅电极的中间。 | ||
地址 | 日本东京都 |