发明名称 OPERATION TEST APPARATUS OF SILICON CONTROLLED RECTIFIER
摘要
申请公布号 KR100197675(B1) 申请公布日期 1999.06.15
申请号 KR19920013086 申请日期 1992.07.22
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 LEE, CHANG-KEUN;KAM, DO-YONG;RYU, JAE-CHUN
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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