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发明名称 MIXED ANALOG AND DIGITAL INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF
摘要
申请公布号 KR100192020(B1) 申请公布日期 1999.06.15
申请号 KR19950027760 申请日期 1995.08.30
申请人 NIPPON ELECTRIC K.K. 发明人 MATSUMOTO, HIROSHI
分类号 G01R31/316;G01R31/3167;H01L21/66;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;H03M1/10;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/316
代理机构 代理人
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