发明名称 WAFER FOR CHECKING MASK'S DEFECT AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
摘要
申请公布号 KR100204413(B1) 申请公布日期 1999.06.15
申请号 KR19950047097 申请日期 1995.12.06
申请人 HYUNDAI ELECTRONICS IND. CO., LTD 发明人 JUN, JE-HA;JIN, HYUN-KYUN;LEE, SEUN-GUK
分类号 H01L21/027;(IPC1-7):H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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